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絕緣材料測試儀器

表面電位衰減測試系統(tǒng)/測試儀絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái) 導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng) 電熱老化罐真空電熱老化測試系統(tǒng) 高阻計(jì) 擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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Huace-991導(dǎo)電塑料體積電阻率試驗(yàn)儀器

更新時(shí)間：2023-12-19

型號(hào)：Huace-991

瀏覽量：2086

導(dǎo)電塑料體積電阻率試驗(yàn)儀器：在測量導(dǎo)電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時(shí)會(huì)因?yàn)殡姌O與被測量材料表面電阻而影響測量準(zhǔn)確性，本裝置采用四電極（四點(diǎn)探針或四探針）法測量導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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高溫四探針測量系統(tǒng)Huace-600測試儀器

更新時(shí)間：2023-12-01

型號(hào)：

瀏覽量：2443

操控性好高溫四探針測量系統(tǒng)Huace-600測試儀器，該系統(tǒng)可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻，該設(shè)備按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。
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高溫直流電阻率測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-09-18

型號(hào)：

瀏覽量：3109

高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測試電壓的穩(wěn)定度。 2、采用保障試驗(yàn)人員及試驗(yàn)設(shè)備的； 3、采用吉時(shí)利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動(dòng)跟隨與切換，可以實(shí)時(shí)采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對(duì)于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便
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高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV-北京華測

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：

瀏覽量：3201

高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV-北京華測采集范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復(fù)合絕緣子技術(shù)條件
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時(shí)間自由設(shè)定高溫直流電阻率測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：

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時(shí)間自由設(shè)定高溫直流電阻率測試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測試電壓的穩(wěn)定度。 2、保障試驗(yàn)人員及試驗(yàn)設(shè)備的； 3、采用吉時(shí)利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動(dòng)跟隨與切換，可以實(shí)時(shí)采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對(duì)于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便；
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自動(dòng)歸零高溫直流電阻率測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：

瀏覽量：3052

自動(dòng)歸零高溫直流電阻率測試系統(tǒng)適合范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復(fù)合絕緣子技術(shù)條件
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自動(dòng)生成報(bào)表高溫直流電阻率測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：

瀏覽量：2213

自動(dòng)生成報(bào)表高溫直流電阻率測試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測試電壓的穩(wěn)定度。 2、保障試驗(yàn)人員及試驗(yàn)設(shè)備的； 3、采用吉時(shí)利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動(dòng)跟隨與切換，可以實(shí)時(shí)采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對(duì)于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便
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HC2661型手持式四探針測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：

瀏覽量：2266

HC2661型手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場合對(duì)元器件進(jìn)行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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