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標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

電壓擊穿測(cè)試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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工程塑料、耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器

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工程塑料、耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器：耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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電弱點(diǎn)測(cè)試儀華測(cè)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司HCRD

更新時(shí)間：2024-12-16

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300

更新時(shí)間：2024-12-16

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Huace-300表面體積電阻率測(cè)試儀北京華測(cè)*

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絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀Huace-300

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金屬導(dǎo)電電阻率測(cè)試儀檢測(cè)設(shè)備

更新時(shí)間：2023-12-19

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