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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數/電阻測試系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數/電阻測試系統由華測儀器生產，是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率；軟件可自動完成信號激勵、數據采集、實時處理及結果輸出全流程，并通過可視化界面直觀呈現測試成果，提升了操作便捷性與測試效率。
產品優勢
1.寬溫區覆蓋與高適應性
支持 RT 至 1200℃ 寬溫度范圍，兼容低溫至高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求
提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，適配材料在不同反應條件下的性能評估
2. 高穩定性與長周期測試能力
電源輸出 0～1A，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集
配備K/S/C型熱電偶，實現準確溫度監控與閉環控制
產品參數
測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法
樣品支架:三明治結構夾于兩電極之間
樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm
樣品尺寸(圓盤狀):10、12.7、25.4 mm
可調探頭距離:4、6、8mm
塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%
電導率測量范圍:0.01~2*105s/cm準確度±5-8%;再現性±3%
電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
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