SIR-450高低溫絕緣電阻測量系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

SIR-450高低溫絕緣電阻測量系統由華測儀器生產，用于預測EMC的HTRB性能。電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環境下具有負阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個關鍵測量手段。

產品參數

溫度范圍：-100~350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃/min（可設定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：高低溫電阻率

數據傳輸：RS-232

多種加溫方式

勻速度加熱試驗；

階梯式加熱試驗；

熱循環試驗（僅供反射爐）；

降溫試驗；

加速度升溫（僅供反射爐）；

產品優勢

除去電網諧波對采集精度的影響；

除去不規則輸入的自動平均值功能；

采用測量前等待的方式，讓材料受熱更均勻。