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  • 半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)
    半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2025-08-01

    型號(hào):

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    半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)華測(cè)儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)高的精度溫控,高屏蔽干擾信號(hào)的循環(huán)熱風(fēng)加熱方式,在高速加熱及高速冷卻時(shí),具有均勻的溫度分布。 可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻 ,加熱箱體整體密封,無氣氛污染。
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  • HC-TSDC環(huán)氧塑封料TSDC測(cè)試系統(tǒng)
    HC-TSDC環(huán)氧塑封料TSDC測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2025-09-17

    型號(hào):HC-TSDC

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    環(huán)氧塑封料TSDC測(cè)試系統(tǒng),熱刺激去極化電流(TSDC)技術(shù)用于預(yù)測(cè)EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程,在該過程中,電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強(qiáng)度和高溫環(huán)境下。在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動(dòng)。
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  • HC-TSC半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)
    HC-TSC半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2025-09-17

    型號(hào):HC-TSC

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    半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)熱刺激去極化電流(TSDC)技術(shù)用于預(yù)測(cè)EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程,在該過程中,電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強(qiáng)度和高溫環(huán)境下。在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動(dòng)。
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  • SIR-450寬溫域絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)
    SIR-450寬溫域絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-04-01

    型號(hào):SIR-450

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    華測(cè)儀器SIR-450寬溫域絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)在電子產(chǎn)品中,電容器、電阻器、半導(dǎo)體器件等需要在不同溫度下進(jìn)行試驗(yàn),以評(píng)估其性能和可靠性。
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  • SIR-450高低溫絕緣電阻測(cè)量系統(tǒng)
    SIR-450高低溫絕緣電阻測(cè)量系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-03-24

    型號(hào):SIR-450

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    華測(cè)儀器SIR-450高低溫絕緣電阻測(cè)量系統(tǒng)搭載軟件平臺(tái)Huace pro ,符合功能材料的各項(xiàng)測(cè)試需求,具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作防護(hù)性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。
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  • Huace-TSDC熱刺激去極化電流(TSDC)測(cè)試系統(tǒng)
    Huace-TSDC熱刺激去極化電流(TSDC)測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-03-10

    型號(hào):Huace-TSDC

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    華測(cè)儀器熱刺激去極化電流(TSDC)測(cè)試系統(tǒng)采用了直流加熱方式進(jìn)行加熱,加入濾波等方式以更好的減少測(cè)量過程中的影響因素,提高了測(cè)量的精度。
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  • Huace-TSDC熱刺激去極化電流測(cè)試儀 TSDC系統(tǒng)
    Huace-TSDC熱刺激去極化電流測(cè)試儀 TSDC系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-01-05

    型號(hào):Huace-TSDC

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    熱刺激去極化電流測(cè)試儀 TSDC系統(tǒng)可用于檢測(cè)材料在長(zhǎng)期運(yùn)行中積累的空間電荷,評(píng)估其絕緣劣化程度;在新型儲(chǔ)能材料開發(fā)中,可揭示離子遷移與界面極化行為;在高分子物理研究中,有助于識(shí)別α、β、γ等多重弛豫過程。
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  • 電氣絕緣材料高電場(chǎng)介電、損耗測(cè)試系統(tǒng)
    電氣絕緣材料高電場(chǎng)介電、損耗測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2025-08-18

    型號(hào):

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    電氣絕緣材料高電場(chǎng)介電、損耗測(cè)試系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)從低頻到高頻信號(hào)的輸出與測(cè)量,系統(tǒng)由工控機(jī)發(fā)出指令,單片機(jī)控制FPGA發(fā)出測(cè)量波形,F(xiàn)PGA一路信號(hào)控制不同頻率幅值的信號(hào)由高壓放大器進(jìn)行電壓放大后,施加在樣品上,另一路施加在鎖相放大器作為參考信號(hào),不同頻率幅值的高壓信號(hào)加載樣樣品上,樣品測(cè)量的信號(hào)測(cè)量后,再回傳FPGA測(cè)試板卡。測(cè)量的數(shù)據(jù)再由單片機(jī)回傳工控機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。
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