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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HCCT-40H電容器溫度特性測試系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HCCT-40H電容器溫度特性測試系統由華測儀器生產，系統通過準確控制溫度環境，并測量電容器在不同溫度下的關鍵參數（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數值），從而評估其溫度特性。該系統穩定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
產品參數
測量項目：電容量 (C)、損耗系數 (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)
測試方法：溫度特性評價試驗
恒定運行檢測
頻率特性評價試驗
通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量
測量方法：交流四端對測量
測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz
電容量(C)：50 pF ~ 5 mF
損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
直流偏壓：0 ~ ±40V
溫度測量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內完成
頻率步長：201步（范圍可定制）
補償：短時補償，開放補償
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